二點五次元簡介
二點五次元科學上稱之為二次元影像儀，就是在原始的二次元影像儀加上探針，之後，稱之為二點五次元影像儀； 二點五次元、二次元、三次元都是用來測量：角度、直徑、半徑、點到線的距離、兩圓的偏心、兩點間距等。
二點五次元影像儀二點五次元材質
二點五次元探針一般使用紅寶石、氮化矽、氧化鋯、測尖做材料
紅寶石：
最常見的測球的材料是紅寶石，因為紅寶石是目前已知的最堅硬的材料之一。紅寶石球具有良好的表面光潔度，並具有優異的耐壓強度和抗碰撞性。
只有極少的情況不適宜採用紅寶石球，如下兩種情況下，推薦採用其他材料製成的測尖：
第一種：是在高強度下對鋁材料製成的工件進行掃描。主要原因在於材料吸引，基於一個稱為“膠著磨損”的現象會在觸測過程中發生。在這種情況下，一個較好的選擇是氮化矽。
第二種：情況是對鑄鐵材料工件進行高強度掃描，這時會在紅寶石表面產生“磨損”。在這種情況下，推薦使用氧化鋯球。
氮化矽：
氮化矽擁有許多與紅寶石同樣的特性。它是一種非常堅硬並可抗磨損的瓷，並可加工成高精度的球，並進行高度表面拋光。氮化矽與鋁材料不吸引，因此不會產生紅寶石球上出現的磨損。但是，氮化矽在掃描鋼表面時呈現較多的磨損，因此其套用最好定義為測量鋁。測量。
氧化鋯：
氧化鋯球是一種特別堅韌的陶瓷材料，其硬度和耐磨性接近紅寶石，基於其表面屬性，使其是掃描鋼工件表面的理想選擇。
桿材料：
鋼
</strong>探針的桿一般是由無磁性的不鏽鋼製成，大多具有2mm或更多的測球直徑，桿長度可達到30mm。在這種情況下，不鏽鋼桿具有良好的剛性質量比。
碳化鎢
</strong>碳化鎢桿是在測量採用1mm測球的細桿情況下，或者是超長達到50mm桿情況下具有最好的剛性。在這種情況下，重量會成為影響因素，因為彎曲會造成剛性損失。
陶瓷
</strong>在測球直徑大於3mm的情況下，或者是長度大於30mm，陶瓷桿相對鋼具有更好的硬度。較碳化鎢，重量更輕，同時由於在碰撞過程中易碎，而為測頭提供更好的保護。
碳纖維(RENISHAWGF)
有許多等級的碳纖維材料，RENISAHWGF具備良好的硬度指標，在縱向和扭矩方面，同時具有特別輕的重量。RENISHAWGF對於長度在50mm以上的探針來說，具有最佳的剛性質量比。
二點五次元原則
為保證一定的測量精度，在對二點五次元探針的使用上，必須要:
</strong>a、探針長度儘可能短：探針彎曲或偏斜越大，精度將越低。因此在測量時，儘可能採用短探針。
b、連線點最少：每次將探針與加長桿連線在一起時，您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。因此在套用過程中，儘可能減少連線的數目。
c、使測球儘可能大
使得球/桿的空隙最大，這樣減少了由於“晃動”而誤觸發的可能，測球直徑較大可削弱被測表面未拋光對精度造成的影響。
二點五次元分類
二點五次元探針分類
直探針
</strong>結構最簡單的探針系統包括球度非常好的工業紅寶石球，桿材料可以選擇。
紅寶石是非常硬的材料，做成的探針的磨損量最小。它的密度也非常低，這樣針尖質量最小，從而可以避免由於機器運動或振動而造成的探針誤觸發。
使用的桿可以有多種材料可供選擇:不鏽鋼、碳化鎢、陶瓷和各種特殊的碳纖維材料“RenishawGF”。這些結構簡單的紅寶石探針更適合於多種檢測套用場合。
探針的有效的工作長度（EWL）是桿在觸測被測元素之前紅寶石球的變動範圍。
如何來選擇球的尺寸和探針的EWL是由待檢測的元素的尺寸決定的。儘可能選擇大的紅寶石探針球和儘可能短的桿，可以保證最大的球/桿距離，這樣可提供更有效的EWL。使用更大一些的紅寶石球可以降低待測組件表面粗糙度的影響。
當使用長的探針和加長桿組合來測量時，不推薦使用標準的動態觸測測頭，由於這種情況下使用時探針容易彎曲變形，剛性會降低，精度也會損失。這和使用其他類型的測頭如允許有彈性變形的測頭，它們的觸測力非常低，允許使用長的探針和加長桿組合，而不會帶來明顯的精度損失。
圓盤探針
</strong>這些探針用於測量鑽孔的切口和凹槽，通常用星型測頭是探測不到的。可以將它們想像成球度非常好的球“截面”，有多種直徑選擇和厚度選項。所有的旋轉調整和增加中心探針的能力都是RENISHAW圓盤探針的觸測範圍，使其具有柔性和易於使用。
用簡單圓盤的“球型邊緣”來探測和使用相當的大探針球是同樣有效的。然而，使用球型探爭時，球表面的小區域接觸工件，而薄的圓盤卻要求精細的角度校正，以便保證正確地觸測待測工件。
簡單圓盤僅僅要求一個直徑的驗證數據（通常在環行量規中），但只限制在X和Y兩個方向中。考慮探測深的鑽孔底部會帶來的額外的柔性變形，圓盤也允許有帶螺紋的中心以便可以固定中心測桿（接近圓盤也是有限的）。
星型探針
</strong>這些探針組合在一起允許你使用多探針測頭來測量複雜的元素和孔。四個或五個紅寶石探針安裝在剛性的不鏽鋼中心上。可提供標準尺寸探針，也可以選擇不同的探針，你可以使用五方向探針和任一個RENISHAW提供的探針來組合星型測頭。
星型探針可用於檢測多種不同的元素。使用多探針測頭可以有效降低檢測時間。減少在測量諸如邊緣或凹槽等內部特徵時移動測頭到極限點的需要。可以使用星型測頭在Z方向進行有效的檢查，這是由於探針可以探測到探針體的直徑範圍外側。星型探針上的每個探針都要求校準，這和單探針校準方式一樣。
特殊套用的探針
</strong>多種專用探針可以用來測量多類元素諸如：螺紋體、薄截面材料、工具箱以及其他專業套用。
圓柱探針
</strong>用於探測薄壁材料的孔。此外，各種帶螺紋的元素可以被探測，螺紋中心被定位。球端圓柱探針允許多角度採集數據和在X，Y，Z三個方向探測，這樣可以進行表面檢測。
尖探針和陶瓷中空球狀探針
設計尖狀探針是為了檢測螺紋體，特殊的點和劃線。圓端尖探針允許更精確的測量和特徵元素的探測。可以用於更小的孔的檢測。
陶瓷材料的中空球狀探針對於探測X，Y和Z三個方向比較深的元素和鑽孔都是理想的。僅需要一個探測桿。在這個範圍有兩型號是直徑18mm和30mm。這些探針通常被設計與TP2/TP20/TP200和TP6來配合使用。大直徑球的探測可減小粗糙表面的影響
二點五次元軟體介紹
二點五次元使用的是SPC（StatisticalProcessControl）統計製程管制，SPC是企業提高品質管理水準的有效方法。智泰集團二次元影像測量儀擁有超強SPC統計分析功能及開放式資料庫，方便品保或其它部門直接獲得截取數據及報表。它能自動認識指定的測量數據，並計算其最大值、最小值、平均值、標準差等的運算，且可套用於生產線實時測量判斷。
在測量數據輸入時，各式圖表立刻同步顯示分析，遇到品質出現問題，軟體系統會自動以顏色或聲音給操作人員以警告，利於檢測人員或者線上作業人員立即掌握品質現況。SPC能為您科學的區分生產過程中的正常變化與異常變化，及時的發現異常狀況，以便採取措施消除異常，恢複製程的穩定，達到降低品質成本，提高產品品質的目的。SPC強調全部過程的預防與管制。
二點五次元儀器
基本信息 品牌： 3DFAMILY 型號： VME400 操作方式： 半自動 功能： 三維測量 精度： 3μm 軟體： OVM 其它型號： VMH700 VME300 VMH600 VMH500 介紹
品牌： 3DFAMILY 型號： VME400 操作方式： 半自動
功能： 三維測量 精度： 3μm 軟體： OVM
其它型號： VMH700 VME300 VMH600 VMH500
二點五次元--VME系列光學影像測量儀採用全新設計：工作檯採用大理石桌面，性能更加穩定，Z軸和調光板採用全新的前置設計方便操作，並新配有17寸液晶顯示器，採用3DFAMILYStepZoom鏡頭，結合軟體在固定倍率下無需校正；在軟體方面，採用OVM半自動測量軟體，功能更加強大，性價比高。
特點
</strong>1、花崗石底座和立柱，機構永不變形。
2、Z軸前置傳動系統，便利操作。
3、鏡頭：3DFAMILY-E型Step-Zoom定格卡位鏡頭，結合軟體在固定倍率下無需線性校正。
4、隨機附有自行研發的多用途校正片，不但可以進行教學演練還可以進行精度校正。
5、OVM半自動測量軟體。
技術參數
主要型號 VME400 測量行程(mm) 400×300×200 全機尺寸(mm) 1160×800×1650 1160×800×1650 高精度花崗石 操作方式 手動 CCD 41萬像素3DFAMILY-E型彩色CCD 鏡頭 3DFAMILY-E型連續變倍鏡頭 放大倍率 光學放大倍率：0.7X-4.5X；影像放大倍率：28X-180X 軟體 OVM 光學尺解析度 1μm 重複性 2μm 測量精度 （3+L/200）μm 機台承重 30kg 使用環境 電源供給：110V～220V±10%50/60HZ溫度：20±5℃濕度：45%-75% 保修期 1年
主要型號 VME400
測量行程(mm) 400×300×200
全機尺寸(mm) 1160×800×1650
1160×800×1650 高精度花崗石
操作方式 手動
CCD 41萬像素3DFAMILY-E型彩色CCD
鏡頭 3DFAMILY-E型連續變倍鏡頭
放大倍率 光學放大倍率：0.7X-4.5X；影像放大倍率：28X-180X
軟體 OVM
光學尺解析度 1μm
重複性 2μm
測量精度 （3+L/200）μm
機台承重 30kg
使用環境 電源供給：110V～220V±10%50/60HZ溫度：20±5℃濕度：45%-75%
保修期 1年
套用領域
手機配件、家電製品、連線器、機械配件、精密夾冶煉具、電腦周邊行業、精密衝壓件等。
