一維相移電子散斑干涉儀

一維相移電子散斑干涉儀

工作距離:400~800mm。 相機:1280×1024 尺寸:650mm

名稱

一維相移電子散斑干涉

簡介

卓力特電子散斑干涉術是繼全息干涉術之後發展起來的一種實驗力學新方法。它捨棄了傳統的拍攝沖印照片複雜的濕處理過程,而直接依靠光學成像系統和計算機圖像採集處理系統獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。用於解決工程中的強度和剛度問題,並可用於殘餘應力測量

技術參數

主要技術指標
◆ 光源:半導體泵浦固體雷射器(綠光),輸出功率20mw, 波長532nm。
◆ 相機:1280×1024 USB2.0數字攝像頭。
◆ 鏡頭:25mm定焦鏡頭(標配),可選配其它C接口鏡頭。
工作距離:400~800mm。
相移器:10nm。
◆ 條紋解析度:1/20級條紋
◆ 最大範圍:150mm×150mm
◆ 尺寸: 650mm ×430mm×300mm
◆ 重量:24kg。
☆TS-SI-1ZP型一維離面位移相移電子散斑干涉儀
一維離面位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表離面位移的干涉條紋,配以穩定的三點彎曲梁載入實驗裝置和圓盤受均布載荷(氣壓)或集中力實驗裝置,使得整個系統穩定可靠,易於調節,可以獲得很好的教學效果。
主要技術指標
◆ 光源:半導體泵浦固體雷射器(綠光)輸出功率20mw, 波長532nm
◆ 相機:1280×1024 USB2.0數字攝像頭
◆ 鏡頭:25mm定焦鏡頭(標配),可選配其它C接口鏡頭
◆ 工作距離:400~1000mm
◆ 相移器:10nm
◆ 條紋解析度:1/20級條紋
◆ 最大範圍: Φ250mm
◆ 尺寸:650mm ×430mm×300mm
◆ 重量:約20kg

教學實驗

一維面內位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內位移的干涉條紋,也可通過相移技術獲得被測表面的全場位移分布,可滿足實驗室科研和教學的需要。配以穩定的懸臂樑載入實驗裝置,使得整個系統穩定可靠,易於調節,能獲得很好的教學效果。

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