電子封裝工藝設備
所屬類別
科技 >> 電工電子 >> 電子技術
作者:中國電子學會電子製造與封裝技術分會-電子封裝技術叢書編輯委員會 組織編寫
叢書名:電子封裝技術叢書
出版日期:2012年7月 書號:978-7-122-12230-8
開本:16 裝幀:平 版次:1版1次 頁數:613頁
本書全面、系統地介紹了各級電子封裝工藝所使用的封裝設備、各種類型積體電路測試系統、測試輔助設備和半導體封裝模具。全書通過封裝工藝的簡述引出設備,分別論述了電子封裝工藝設備在電子和半導體封裝工藝中的作用和地位,較系統地介紹了電子和半導體封裝不同工藝階段所對應的封裝設備的工藝特點、工作原理、關鍵部件及套用的代表性產品示例。
本書對電子和半導體封裝及相關行業的科研、生產、套用工作者都會有較高的使用價值,對高等院校相關專業的師生也具有一定的參考價值。
目錄
第1章緒論
11電子產品封裝概述
111半導體封裝技術
112半導體封裝技術的發展階段
12封裝工藝與設備
121電子封裝的作用
122從封裝工藝到封裝設備
13封裝設備的作用和地位
131裝備決定產業
132半導體封裝設備的作用和地位
14微電子封裝技術發展趨勢
141先進封裝技術
142印製電路板技術
143中段製程時代的來臨
144環保綠色封裝
參考文獻
第2章晶圓測試、減薄、劃片工藝設備
21概述
22晶圓測試工藝設備
221晶圓探針測試台
222探針測試卡
223典型測試設備示例
23晶圓減薄工藝設備
231晶圓減薄設備
232典型減薄設備示例
24晶圓劃片工藝設備
241晶圓劃片設備
242典型晶圓劃片設備示例
參考文獻
第3章晶片互連工藝設備
31概述
32晶片鍵合工藝設備
321晶片鍵合設備主要特點及工作原理
322晶片鍵合設備關鍵技術與部件
323典型晶片鍵合設備示例
33引線鍵合工藝設備
331引線鍵合設備主要特點及工作原理
332引線鍵合設備關鍵技術與部件
333引線鍵合主要工藝參數
334典型引線鍵合設備示例
34載帶自動鍵合(TAB)工藝設備
341TAB設備主要特點及工作原理
342TAB設備關鍵部件
參考文獻
第4章晶片封裝工藝設備
41概述
42氣密封裝工藝設備
421金屬封裝
422陶瓷封裝
423氣密封裝設備
43塑膠封裝工藝設備
431塑膠封裝技術及類型
432塑封設備
433切筋成形機
434引腳鍍錫系統
435印字打標機
44產品包裝與運輸
參考文獻
第5章先進封裝工藝設備
51概述
52球柵陣列(BGA)封裝工藝設備
521BGA封裝
522BGA封裝工藝關鍵設備
53倒裝晶片鍵合工藝設備
531倒裝晶片鍵合技術
532倒裝晶片鍵合設備
533倒裝晶片鍵合輔助工藝設備
534典型倒裝晶片鍵合設備示例
54晶圓級CSP封裝(WLCSP)工藝設備
541晶圓級封裝技術
542晶圓級封裝設備
543重新布線(RDL)技術
55系統級封裝工藝設備
551系統集成
552系統級封裝設備
56三維晶片集成工藝設備
561三維封裝技術
562三維封裝工藝設備
563矽通孔(TSV)蝕刻設備
564雷射劃片機
565銅鍍層化學機械平坦化設備
參考文獻
第6章表面貼裝工藝設備
61概述
611SMT工藝流程
612SMT生產線主要設備
62焊膏塗覆設備
621絲網印刷設備
622絲網印刷機
623SMT貼片膠點膠機
624噴射點膠機
63元器件貼裝工藝設備
631貼片工藝
632貼片機分類
633貼片機結構類型
634貼片機的工作原理
635貼片機工藝控制
636典型貼片設備示例
64SMT焊接工藝設備
641焊接方法及其特性
642回流焊爐
643波峰焊爐
644無鉛焊接技術簡述
65SMT清洗工藝設備
651清洗工藝
652清洗設備
66SMT檢測設備
661自動光學檢測(AOI)系統
662自動X射線檢測(AXI)系統
663飛針測試設備
664線上測試(ICT)設備
67SMT電路板返修與維修
671普通SMD的返修
672BGA的返修
673BGA置球返修
674典型返修系統示例
參考文獻
第7章厚、薄膜電路封裝工藝設備
71概述
72厚膜電路封裝工藝設備
721厚膜電路封裝工藝
722厚膜電路工藝設備
73薄膜電路封裝工藝設備
731薄膜電路封裝工藝
732薄膜電路工藝設備
74低溫共燒陶瓷(LTCC)基板工藝設備
741LTCC技術
742LTCC製作工藝
743多層陶瓷工藝設備
參考文獻
第8章印製電路板工藝設備
81概述
811電子產品的多樣化
812PCB基板薄型化
813高速信息處理用PCB
814高耐熱性PCB基板
82印製電路板的類型
821多層板(MPCB)
822高密度互連板 (HDI)
823埋置元件印製電路板
824撓性PCB(FPC)
83印製電路板的製造工藝
831內層板製作工藝
832多層板壓合
833撓性板製造工藝
84印製電路板相關工藝設備
841光繪設備
842蝕刻設備
843PCB真空層壓設備
844鑽孔設備
845電鍍銅設備
846絲網印刷設備
847PCB電性能測試設備
848自動光學檢測(AOI)系統
849PCB成形設備
8410雷射打標設備
參考文獻
第9章超大規模積體電路測試工藝設備
91概述
911IC測試的主要過程
912測試的分類
92積體電路測試系統
921積體電路測試系統分類
922電路測試原理
923積體電路測試內容
924分散式積體電路測試系統
925內建自測試(BIST)
926積體電路測試驗證系統
93數字積體電路測試系統
931數字積體電路測試原理
932數字積體電路測試順序
933數字積體電路設計和生產中的測試
934數字積體電路測試系統工作原理
935數字LSI/VLSI測試系統
94模擬電路測試系統
941模擬電路測試所需儀器
942模擬電路測試系統的系統結構
943模擬測試系統儀器構成原理
944現代模擬積體電路測試系統
945模擬IC測試平台
95數模混合信號積體電路測試系統
951混合信號電路的測試需求
952數模混合電路測試方法
953混合信號電路測試系統的體系結構
954混合信號電路測試系統的同步
955混合信號電路測試系統
956數模混合電路測試系統示例
96SoC測試系統
961測試複雜性
962SoC測試設備
963T2000 SoC測試系統平台
964SoC測試系統示例
97RF測試
971應對RF測試的ATE功能
972數字RF測試系統
973射頻晶片測試的調製向量網路分析
974射頻晶圓測試
98網路測試系統
981虛擬儀器的出現
982網路化儀器儀表
99積體電路自動測試設備(ATE)
991自動測試設備的類型
992典型測試系統示例
910VLSI測試的未來
參考文獻
第10章電子封裝模具
101概述
1011電子封裝模具分類與簡介
1012引線框架模具
1013塑封模具
1014切筋成形模具
102電子封裝模具結構特點
1021引線框架模具的結構特點
1022塑封模具的結構特點
1023半導體切筋成形模具的結構特點
103電子封裝模具技術特點
1031引線框架模具的技術特點
1032半導體塑封模具的技術特點
1033半導體切筋成形模具的技術特點
104電子封裝模具製造與調試
1041模具製造與工藝
1042引線框架模具的安裝與調試
1043半導體塑封模具的安裝與調試
1044半導體切筋成形模具的安裝與調試
參考文獻
附錄電子封裝縮略語