變溫霍爾

霍爾效應的測量是研究半導體性質的重要實驗方法。利用霍爾係數和電導率的聯合測量，可以用來確定半導體的導電類型和 載流子濃度。通過測量霍爾係數與電導率隨溫度的變化，可以確定半導體的禁頻寬度、雜質電離能及遷移率的溫度係數等基本參數。本儀器採用現代電子技術和計算機數據採集系統，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾係數和電導率的測量，來確定半導體材料的各種性質。