珠寶鑑定儀

珠寶鑑定儀，俗稱測金儀，驗金機，也可以叫貴金屬檢測儀，主要是X螢光光譜法（XRF）來判定。
螢光光譜測金儀亦稱XRF,設備其分析方法，是具有一定能量解析度的X射線探測器同時探測樣品所發出的各種能量特徵X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。
XRF設備主要優勢:
1 ) 3秒鐘內可對金銀飾品進行定性識別,30秒～60秒自動計算出首飾的精確含量
2 ) 對樣品無需任何物理和化學處理，即無損檢測金銀飾品
3 ) 分析範圍：能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%～99.99%
4) 安全性能指針符合國家標準要求(光線激發源為MO靶X光管)
5) 具有溫濕度自動補償功能
6) 符合最嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（採用滑蓋設計）
7) 探頭指針高，性能好，壽命長；
8) 全新32位軟硬體系統，工作可靠，效率高
9) 全球率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X螢光更集中於目標位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的照片對應於檢測結果，連同計算報告一起列印出來。
10）集成工業計算機在設備機箱內，無需外接計算機；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷
影響XRF測金儀的檢測結果的因素有很多。由於首飾產品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法時檢測人員應了解和熟悉以下影響結果的因素（這些影響因素在不同情況下將對特徵譜線強度的採集產生很大的影響，甚至造成誤判）：
a)被測樣品與標準物質所含元素組成和含量有較大的差異；
b)被測樣品的表面有鍍層或經化學處理；
c)測量時間；
d)樣品的形狀；
e)樣品測量的面積；
f)貴金屬的含量多少；
XRF測金儀檢測出來的結果通常需要全面理解，由於被測的首飾產品不同，使用的儀器不同，檢測人員的素質水平不同，對檢測結果的接收範圍建議在以下範圍內選取。隨貴金屬含量的減少，可接收的範圍將增大。測量結果的誤差範圍為0.1%—3%，也可以根據委託方的協定確定，對結果如有爭議，應以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結果為準。