干涉度量法

干涉度量法以光的干涉原理為基礎來設計和運用光學干涉儀或干涉裝置進行精密量度的學科。

1892年，邁克耳孫用邁克耳孫干涉儀將標準米的長度以鎘紅線的波長來表示，1960年國際計量局規定以Kr原子從2p到5d能級躍遷時輻射的光波波長作為長度的基準，這是套用光的干涉來測量和比較長度的正式開端。雷射的出現，提供了高亮度、相干性好的單色光源，大大改善了經典干涉儀的性能，並且促進了新的干涉儀的出現。干涉量度的範圍十分廣泛，精確度很高。例如可用來精密測量光的波長，測量微小的距離、厚度和角度，研究光譜線的超精細結構，精密測定折射率及其變化，測量星體的直徑和雙星間的距離。利用全息干涉儀還可測知物體表面變化的信息，甚至可用來研究生物的生長過程。