基本信息
出版時間：2011-01-01
版 次：1
頁 數：306
裝 幀：平裝
開 本：16開
內容簡介
《固體材料常用表征技術》分別介紹X射線光電子能譜分析技術，X射線粉末衍射分析技術，俄歇電子能譜分析技術，X射線吸收精細結構分析技術，固體材料的質譜分析技術，電子顯微鏡分析技術，電子探針X射線顯微分析技術，核磁共振波譜分析技術，電子順磁共振譜分析技術，衍射散射式雷射粒度分析技術，氮氣吸附分析技術，正電子湮沒分析技術，電化學阻抗譜分析技術。《固體材料常用表征技術》既可可作為高等院校化學化工、材料、物理等專業的研究生教材和高年級本科生教材，也可作為相關領域的科研人員和工程技術人員的參考書。
目錄
第1章 X射線光電子能譜分析技術
1.1 引言
1.2 儀器構造與樣品製備
1.2.1 X射線源
1.2.2 超高真空系統（IJHV）
1.2.3 分析器與數據系統
1.2.4 其他附屬檔案
1.2.5 靈敏度和檢測限
1.2.6 清潔表面製備
1.3 基本原理
1.3.1 XPS的物理基礎
1.3.2 XPS譜的結合能參照基準
1.3.3 結合能化學位移
1.4 XPS在化學上的套用及實例解析
1.4.1 定性分析
1.4.2 定量分析
1.5 新技術
1.5.1 單色化XPS（Mono XPS）和小面積XPS（SAXPS）
1.5.2 SAXPS深度剖析
1.5.3 成像XPS（iXPS）
1.5.4 XPS線掃描分析
本章小結
參考文獻
第2章 X射線粉末衍射分析技術
2.1 引言
2.2 X射線粉末衍射儀
2.2.1 基本構造
2.2.2 工作原理
2.2.3 試樣製備
2.2.4 套用及圖例解析
本章小結
參考文獻
第3章 俄歇電子能譜分析技術
3.1 引言
3.2 俄歇表面分析技術的基本理論
3.2.1 俄歇過程和俄歇電子
3.2.2 俄歇電子能量與特徵譜線的關係
3.2.3 俄歇電子的強度
3.2.4 化學效應
3.3 儀器結構
3.3.1 樣品室
3.3.2 電子槍
3.3.3 氬離子槍
3.3.4 電子能量分析器
3.3.5 檢測器
3.3.6 真空系統
3.3.7 俄歇電子能譜儀的解析度和靈敏度
3.4 實驗技術
3.4.1 樣品的製備技術
3.4.2 離子束濺射技術
3.4.3 樣品的荷電問題
3.4.4 俄歇電子能譜的採樣深度
3.5 俄歇電子能譜圖的分析技術
3.5.1 表面元素定性鑑定
3.5.2 表面元素的半定量分析
3.5.3 表面元素的化學價態分析
3.5.4 深度分析
3.5.5 微區分析
