基本信息
作 者:李鐵,張培煒 編
叢 書 名:
出 版 社:重慶出版社
ISBN:9787536676671
出版時間:2011-01-01
版 次:5
頁 數:184
裝 幀:平裝
開 本:32開
所屬分類:圖書 > 教材教輔 > 中考
內容簡介
易錯點掃描:掃描學生在平時學習過程中容易混淆的知識點。
範例剖析:剖析各知識板塊內最典型的易錯題,引導學生通過剖析找到自己知識上、思維上的缺陷。
易錯題集萃:精選學生在各類練習中出錯率比較高的試題。
易錯題診斷:每道試題從“典型錯誤”‘錯因分析”“正確解答”等幾個方面來分析,讓學生深入地了解別人究竟錯在哪裡,以警示自己。有些題目後還有“歸納拓展”,通過一道題教會學生解一類題的方法。本部分是全書的重點,具有同類圖書沒有的錯誤原因分析及一些解題思路的點撥,讓學生對錯誤有深刻的認識。