基本介紹
與傳統的三坐標測量儀和雷射三維掃瞄器相比，系統的軟體和硬體可以根據需要專門進行開發和設計，技術實用性強，廣泛適用於各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、機車外殼及內飾、家電，雕塑等。
基本特點
三維光學密集點雲測量系統1、採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大（從150mm到3米）、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，工件一般不需要噴顯影劑，而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
2、一機多用，單幅測量幅面從150mm到3000mm，可以測量幾毫米到幾十米的工件和物體。一台測量系統的可同時掃描測量小型、中型、大型工件。
3、面掃描、測量數據密集。單幅掃描一次獲得130萬-660萬的點雲，點雲的點間距為0.04mm-0.67mm，海量數據測量和處理，測量精度從0.008mm到0.05mm。
4、移動攜帶型測量。與傳統的三坐標測量機、雷射抄數機相比，突出特點為移動攜帶型操作，流動式測量，不需要固定的大型操作台，移動式測量，可以掃描測量幾毫米到幾十米的產品工件和物體。
5、強大的自動拼接和重疊面
自動刪除功能。功能強大的多次掃描自動拼接功能，提高工件掃描效率80%以上，拼接精度更高，多幅拼接自動化完成，自動刪除重疊面。可以與工業數字近景三維攝影測量系統配合使用提高拼接精度。
6、測量掃描速度快。單幅（最大3000mm幅面）測量速度為3~6秒。
7、工件不需要噴顯影劑、更適合線上檢測。採用外差式多頻相移技術，工件一般不需要噴顯影劑就可直接測量，適合批量生產的現場檢測，適應性更廣。
8、雷射指示器測距。方便操作測量，提高測量效率。
9、提供多種標定板。標定板和十字架標定採用編碼標誌點和亞像素圖像識別技術，標定精度更高更準確。標定板幅面從150mm*110mm到 3000mm*3000mm。
10、系統採用工業化產品設計。所有硬體設備集成一起，一體化設計，性能穩定可靠。軟體一體化集中控制所有硬體設備，包括雷射指示器、工業相機、光柵投射器等。
11、長期升級和技術支持。雄厚的技術力量，保證系統的長期升級更新和技術支持。
技術參數
| 具體型號 | IOM400 IOM1500 |
| 測量行程（mm） | 400*300 1500*2000 |
| 單幅面（mm） | 150-3000 |
| 點去間距（mm） | 0.04-0.67 |
套用領域
逆向設計：快速獲取零件的曲麵點雲數據，建立三維數模，達到快速設計產品目的
產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合複雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、衝壓件、模具、注塑件、木製品等產品
其他套用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、整容及上頜面手術
