Williams-Beuren綜合徵實驗診斷

Williams-Beuren綜合徵實驗診斷是通過實驗室檢查對Williams-Beuren綜合徵進行診斷,實驗室檢查主要為分子生物學檢查,包括染色體分析、外周血微陣列比較基因組雜交和螢光原位雜交技術等。

檢查方法

1.染色體顯帶核型分析
染色體分析包括常規顯帶技術分析和高分辨顯帶核型分析。常規顯帶核型分析的主要步驟為用特殊溶液(如胰蛋白酶溶液、氫氧化鈉溶液等)處理染色體塗片後進行特定染色,乾燥完畢後用油鏡觀察。高分辨顯帶核型分析是利用試劑處理培養細胞,以獲得大量分裂早期細長染色體,再經顯帶處理後可顯示更多帶紋,提升解析度。染色體核型分析可檢出第7號染色體長臂部分缺失。常染色體核型分析也可正常。
2.外周血微陣列比較基因組雜交
此方法的基本原理是用螢光染料分別標記正常細胞DNA和受檢樣品DNA製成探針,將二者分別同表面固定有大量基因探針的微小基片(微陣列)進行雜交,通過檢測螢光強度可了解染色體變化,進行圖像分析可定量檢測。其主要步驟包括晶片製備、受檢樣品和正常組織DNA提取、螢光標記、雜交、洗片、乾燥、溶液處理、圖像採集、讀片、分析。外周血微陣列比較基因組雜交具有解析度高、定位精確的特點。可檢出常規染色體核型未能發現的染色體微缺失和微重複,提高染色體結構異常的檢出率。
3.螢光原位雜交
其基本原理為用螢光染料標記探針,將染色體和標記的探針雜交,而後用與螢光染料分子耦聯的單克隆抗體與探針分子特異結合,通過檢測雜交信號來檢測該序列在染色體上的定位。其主要步驟包括染色體樣本處理、玻片製備、預變性及變形、雜交、洗片等。螢光原位雜交可發現細微的染色體異常,對Williams-Beuren綜合徵的檢出率可達90%以上。陰性檢出率患者可進一步行遺傳學評價或其他基因測定以確定WS微缺失區域附近是否存在非典型性的基因缺失。4.其他方法
基因晶片、螢光定量聚合酶鏈式反應(FQ-PCR)以及結合雜交技術和PCR技術的多重連線探針擴增技術均可用於染色體片段缺失的檢測。多重連線探針擴增技術具有獨特的技術優勢:操作簡單、方法經濟、成本低廉、高密度、通量高、高靈敏度高、高特異性。三、臨床意義
Williams-Beuren綜合徵又稱Williams綜合徵、,是因第7號染色體長臂近著絲粒端片段缺失引起的,臨床以散發為主,偶有家族性病例報導。常表現為小精靈面容、精神發育遲緩、身材缺陷、牙齒畸形和高鈣血症,主動脈瓣上狹窄,肺動脈狹窄。Williams-Beuren綜合徵的診斷可根據患者臨床表現、相關影像學檢查等進行,其實驗室檢查可明確病因、定位染色體缺陷,並為鑑別診斷提供依據,孕中期羊水細胞染色體分析、外周血微陣列比較基因組雜交、螢光原位雜交、多重連線探針擴增技術等檢測可協助診斷。

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