【專業名稱】：能量色散X螢光光譜儀
【原理】
待測樣品的一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉，它們按不同的能量分布在不同的電子殼層，分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當具有高能量的入射（一次）X射線與原子發生碰撞時，會打破（待測樣品的）原子結構的穩定性。處於低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發而從原子中逐放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位，這時處於高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由於不用電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個過程就是我們所說的X射線螢光（XRF）。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後儀器軟體將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發射強度與樣品中的元素含量成正比，通過預先設定好的校正曲線計算出來，可顯示其含量。
【特點】
分析範圍：0.3％～99.99％
測量時間：自適應
測量精度：±0.1％
測試環境：常溫常態
分析元素：Au、AG、PT、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD﹑W
X射線源：X射線光管
高壓器：4～50Kv
分析：多通道模擬
作業系統：Windows2000／Me／XP
【套用領域】
首飾加工企業
貴金屬回收
質檢部門
典當行
